首頁 >
檢測中心 >
功率器件 >
材料 >
少子壽命測試
設(shè)備：外延片少子壽命測試儀WT-2000 Wafer Test System
廠商：匈牙利 SEMILAB
用途：1.厚外延少子壽命測試2.SiC電阻率測試
技術(shù)指標(biāo)：少子壽命測試要求外延厚度>30um；規(guī)則樣品寬度>10mm 可以點(diǎn)測或連續(xù)面測
?
大连市|
汤阴县|
四会市|
长沙县|
泽库县|
海南省|
论坛|
石狮市|
太白县|
西乌珠穆沁旗|
互助|
饶平县|
星座|
定结县|
新沂市|
莒南县|
利辛县|
房山区|
普洱|
京山县|
隆昌县|
通州区|
卓尼县|
池州市|
淮北市|
馆陶县|
浦江县|
罗江县|
棋牌|
图片|
荃湾区|
商水县|
双桥区|
黎平县|
施秉县|
博客|
平舆县|
高台县|
静安区|
剑川县|
武乡县|
